JDZ-2弱磁梯度測量儀說明書

一、產(chǎn)品簡介：

JDZ-2多功能弱磁場測量儀是一款采用磁通門原理測量弱磁測量的精密儀器，具有

操作簡便、工作穩(wěn)定、讀數(shù)可靠的多功能測量儀器，是實(shí)驗(yàn)室、野外測量儀器；主要用于航天、航空、石化、電子、機(jī)械、鉆探、材料、鑄造等工業(yè)的的

無損檢測、探測；適用于實(shí)驗(yàn)室、野外的弱磁場梯度、磁場差的測量和比較。

二、弱磁場差分（弱磁梯度）測量應(yīng)用:

1.永磁材料、軟磁材料等退磁后的微弱剩磁測量。

2.防磁罩、屏蔽罩等表面漏磁強(qiáng)度測量、外表面分布磁場測量。

3.磁場屏蔽防護(hù)效果檢查、漏磁大小、微弱干擾源定位。

4.檢測、定位實(shí)驗(yàn)室周圍磁性材料移動對磁場干擾的影響。

5.精密零件應(yīng)力分布檢測、精密零件表面磁場梯度檢測，用于零件淬火、精密鑄造、

精密鍛造、機(jī)械加工后的裂紋無損檢測、零件空洞缺陷的無損檢測等。

三、弱磁場差分（弱磁梯度）測量參產(chǎn)品參數(shù)特點(diǎn):

1.測量范圍:0~±199.999uT.

2.有效分辨率:0.00001uT.

3.測量誤差：±1%

4.符合國家JJF1519-2015磁通門差分磁強(qiáng)計(jì)校準(zhǔn)規(guī)范。

5 .探頭標(biāo)配為20mm差值探頭（按使用要求定制）

6 .自校準(zhǔn)參數(shù)69.8uT*5%

注：.測量磁場差時(shí)，儀器顯示的讀數(shù)為當(dāng)前20mm之間的磁場差值。

四、操作說明：

1. 本機(jī)操作簡單，5個(gè)按鍵從左到右依次為“設(shè)置"、“選項(xiàng)"、“發(fā)送"、“校

        驗(yàn)"、“清零"，最下面位探頭插口、觸摸電源開關(guān)。

2. 磁場差（弱磁梯度）測量：開機(jī)進(jìn)入弱磁梯度測量模式（屏幕左上角顯示“弱磁

梯度測量"，右上角顯示“uT"），顯示值為弱磁梯度；

3. 精密測量、校驗(yàn)時(shí)，須把探頭固定（轉(zhuǎn)動探頭顯示最小），按“清零"鍵顯示為

“0"，此時(shí)探頭前的磁場變動，屏幕顯示的數(shù)據(jù)即為弱磁梯度。

4. 弱磁梯度校驗(yàn)（校驗(yàn)時(shí)探頭須固定）：按“校驗(yàn)"鍵（當(dāng)顯示為0時(shí)），屏幕右

上角顯示“uT"的變?yōu)榉春?/span>“對比"，此時(shí)顯示的與出廠時(shí)給定的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字接近時(shí)

即儀器測量正常，測量、校準(zhǔn)前要關(guān)閉。

5. 弱磁梯度校準(zhǔn)：按“設(shè)置"鍵進(jìn)入校準(zhǔn)頁（屏幕左上角顯示“弱磁梯度校準(zhǔn)"，

右上角顯示反黑“對比"），上列數(shù)字行為實(shí)時(shí)測量值，下列數(shù)字行為標(biāo)準(zhǔn)值，按

“選項(xiàng)"鍵移動光標(biāo)，按“發(fā)送"鍵可更改光標(biāo)下的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)，等數(shù)值穩(wěn)定后按“校

驗(yàn)"鍵校準(zhǔn)，上列數(shù)字行與下列數(shù)字行接近后，即校準(zhǔn)完畢；校準(zhǔn)完畢：再按“設(shè)

置"返回測量界面。

五、遠(yuǎn)程測量、校準(zhǔn)格式：

1.通訊模式：RS485,數(shù)據(jù)傳輸模式：9600 8N1

2.通訊協(xié)議：

發(fā)送16進(jìn)制B6666660：在“測量"頁面時(shí)，返回的是讀取的測量數(shù)據(jù)；

發(fā)送16進(jìn)制B6666661：同磁弱磁梯度的“校驗(yàn)"鍵，返回字符“NO"和字符“EN"；

        發(fā)送16進(jìn)制B6666662：同測量頁面的“清零"鍵,返回的是清零后的數(shù)據(jù)；

3. 數(shù)據(jù)格式：

4. 磁場差（弱磁梯度）測量數(shù)據(jù)：CC+5位序號+ 6位測量數(shù)據(jù)+uT

六、使用說明：

儀器開機(jī)需要預(yù)熱10分鐘以上。

1. 儀器、探頭屬敏感器件，須嚴(yán)格管理，使用時(shí)應(yīng)輕拿輕放，不可敲打或撞擊。

2. 儀器探頭嚴(yán)禁測量或接觸鐵、磁物材料。

3. 測量完畢后應(yīng)及時(shí)套上探頭防護(hù)蓋，以防探頭接觸鐵磁物。

4. 儀器保管時(shí)，儀器、探頭要遠(yuǎn)離鐵、磁材料、零件等。

5. 出廠時(shí)經(jīng)過嚴(yán)格校準(zhǔn)，不要隨意打開。否則，儀器需返廠重新校準(zhǔn)。

6. 探頭漂移、測量靈敏度下降后續(xù)返廠修理或更換。

7. 為了保證儀器測量準(zhǔn)確度，儀器必須定期校準(zhǔn)。

七、售后維護(hù)：

1. 儀器保修2年，保修期內(nèi)非人為造成除外。

2. 儀器需返廠校準(zhǔn)和維修時(shí)，儀器和探頭一并寄回。